पीसीबी का निरीक्षण एवं मरम्मत

1. प्रोग्राम के साथ चिप
1. EPROM चिप्स आमतौर पर क्षति के लिए उपयुक्त नहीं होते हैं।क्योंकि इस प्रकार की चिप को प्रोग्राम को मिटाने के लिए पराबैंगनी प्रकाश की आवश्यकता होती है, यह परीक्षण के दौरान प्रोग्राम को नुकसान नहीं पहुंचाएगी।हालाँकि, ऐसी जानकारी है: चिप बनाने के लिए उपयोग की जाने वाली सामग्री के कारण, जैसे-जैसे समय बीतता है), भले ही इसका उपयोग न किया जाए, यह क्षतिग्रस्त हो सकता है (मुख्य रूप से प्रोग्राम को संदर्भित करता है)।इसलिए जितना संभव हो सके इसका समर्थन करना आवश्यक है।
2. EEPROM, SPROM, आदि, साथ ही बैटरी के साथ RAM चिप्स, प्रोग्राम को नष्ट करना बहुत आसान है।क्या ऐसे चिप्स उपयोग के बाद प्रोग्राम को नष्ट कर देंगे?VI वक्र को स्कैन करना अभी तक निर्णायक नहीं है।हालाँकि, सहकर्मियों जब हम इस तरह की स्थिति का सामना करते हैं, तो सावधान रहना बेहतर होता है।लेखक ने कई प्रयोग किए हैं, और सबसे संभावित कारण है: रखरखाव उपकरण (जैसे परीक्षक, इलेक्ट्रिक सोल्डरिंग आयरन, आदि) के खोल का रिसाव।
3. सर्किट बोर्ड पर बैटरी वाली चिप को आसानी से बोर्ड से न हटाएं।

2. सर्किट रीसेट करें
1. जब सर्किट बोर्ड पर बड़े पैमाने पर एकीकृत सर्किट की मरम्मत की जानी हो, तो रीसेट समस्या पर ध्यान देना चाहिए।
2. परीक्षण से पहले, इसे डिवाइस पर वापस रखना, मशीन को बार-बार चालू और बंद करना और इसे आज़माना सबसे अच्छा है।और रीसेट बटन को कई बार दबाएं।

3. फ़ंक्शन और पैरामीटर परीक्षण
1.डिवाइस का पता लगाते समय केवल कट-ऑफ क्षेत्र, प्रवर्धन क्षेत्र और संतृप्ति क्षेत्र को प्रतिबिंबित कर सकता है।लेकिन यह ऑपरेटिंग आवृत्ति और गति जैसे विशिष्ट मानों को माप नहीं सकता है।
2. इसी तरह, टीटीएल डिजिटल चिप्स के लिए, केवल उच्च और निम्न स्तर के आउटपुट परिवर्तनों को जाना जा सकता है, लेकिन इसके उठने और गिरने वाले किनारों की गति का पता नहीं लगाया जा सकता है।

4. क्रिस्टल थरथरानवाला
1. आमतौर पर परीक्षण के लिए केवल एक ऑसिलोस्कोप (क्रिस्टल ऑसिलेटर को चालू करने की आवश्यकता होती है) या एक आवृत्ति मीटर का उपयोग किया जा सकता है, और माप के लिए एक मल्टीमीटर का उपयोग नहीं किया जा सकता है, अन्यथा प्रतिस्थापन विधि का ही उपयोग किया जा सकता है।
2. क्रिस्टल ऑसिलेटर के सामान्य दोष हैं: a.आंतरिक रिसाव, बी.आंतरिक खुला सर्किट, सी.परिवर्तनीय आवृत्ति विचलन, डी.परिधीय जुड़े कैपेसिटर का रिसाव।यहां रिसाव की घटना को VI वक्र द्वारा मापा जाना चाहिए.
3. संपूर्ण बोर्ड परीक्षा में दो निर्णय विधियों का उपयोग किया जा सकता है: a.परीक्षण के दौरान, क्रिस्टल ऑसिलेटर के पास संबंधित चिप्स विफल हो जाते हैं।बी।क्रिस्टल ऑसिलेटर के अलावा कोई अन्य दोष बिंदु नहीं पाया गया है।

4. क्रिस्टल ऑसिलेटर दो सामान्य प्रकार के होते हैं: a.दो पिन.बी।चार पिन, जिनमें से दूसरा पिन संचालित होता है, और ध्यान इच्छानुसार कम नहीं होना चाहिए।पाँच।दोष घटना का वितरण 1. सर्किट बोर्ड के दोषपूर्ण भागों के अपूर्ण आँकड़े: 1) चिप क्षति 30%, 2) अलग-अलग घटकों की क्षति 30%,
3) 30% वायरिंग (पीCB लेपित तांबे का तार) टूट गया है, 4) प्रोग्राम का 10% क्षतिग्रस्त या खो गया है (ऊर्ध्वगामी प्रवृत्ति है)।
2. यह ऊपर से देखा जा सकता है कि जब सर्किट बोर्ड के कनेक्शन और मरम्मत के कार्यक्रम में कोई समस्या होती है, और कोई अच्छा बोर्ड नहीं होता है, इसके कनेक्शन से परिचित नहीं होता है, और मूल प्रोग्राम नहीं ढूंढ पाता है, तो संभावना है बोर्ड की मरम्मत का काम अच्छा नहीं है.