1. প্রোগ্রাম সহ চিপ
1. EPROM চিপগুলি সাধারণত ক্ষতির জন্য উপযুক্ত নয়।কারণ প্রোগ্রামটি মুছে ফেলার জন্য এই ধরণের চিপের অতিবেগুনী আলোর প্রয়োজন, এটি পরীক্ষার সময় প্রোগ্রামটির ক্ষতি করবে না।যাইহোক, তথ্য আছে: চিপ তৈরি করতে ব্যবহৃত উপাদানের কারণে, দীর্ঘ সময়ের সাথে সাথে, এটি ব্যবহার না করা হলেও এটি ক্ষতিগ্রস্থ হতে পারে (প্রধানত প্রোগ্রামকে বোঝায়)।তাই যতটা সম্ভব ব্যাক আপ করা প্রয়োজন।
2. EEPROM, SPROM, ইত্যাদি, সেইসাথে ব্যাটারি সহ RAM চিপ, প্রোগ্রামটি ধ্বংস করা খুব সহজ।এই ধরনের চিপ ব্যবহার করার পরে প্রোগ্রাম ধ্বংস হবে কিনাVI বক্ররেখা স্ক্যান করা এখনও চূড়ান্ত নয়।যাইহোক, সহকর্মীরা যখন আমরা এই ধরণের পরিস্থিতির মুখোমুখি হই, তখন সাবধান হওয়া ভাল।লেখক অনেক পরীক্ষা-নিরীক্ষা করেছেন, এবং সবচেয়ে সম্ভাব্য কারণ হল: রক্ষণাবেক্ষণ সরঞ্জামের শেলের ফুটো (যেমন টেস্টার, বৈদ্যুতিক সোল্ডারিং লোহা ইত্যাদি)।
3. সার্কিট বোর্ডে ব্যাটারিযুক্ত চিপের জন্য, বোর্ড থেকে এটি সহজে সরিয়ে ফেলবেন না।
2. সার্কিট রিসেট করুন
1. যখন সার্কিট বোর্ডে মেরামত করার জন্য একটি বড়-স্কেল সমন্বিত সার্কিট থাকে, তখন রিসেট সমস্যার দিকে মনোযোগ দেওয়া উচিত।
2. পরীক্ষার আগে, এটিকে ডিভাইসে ফিরিয়ে দেওয়া, বারবার মেশিনটি চালু এবং বন্ধ করা এবং চেষ্টা করা ভাল।এবং রিসেট বোতামটি কয়েকবার চাপুন।
3. ফাংশন এবং প্যারামিটার পরীক্ষা
1.ডিভাইস সনাক্ত করার সময় শুধুমাত্র কাট-অফ এলাকা, পরিবর্ধন এলাকা এবং স্যাচুরেশন এলাকা প্রতিফলিত করতে পারে।কিন্তু এটি নির্দিষ্ট মান যেমন অপারেটিং ফ্রিকোয়েন্সি এবং গতি পরিমাপ করতে পারে না।
2. একইভাবে, TTL ডিজিটাল চিপগুলির জন্য, শুধুমাত্র উচ্চ এবং নিম্ন স্তরের আউটপুট পরিবর্তনগুলি জানা যায়, তবে এর ক্রমবর্ধমান এবং পতনের প্রান্তের গতি সনাক্ত করা যায় না।
4. ক্রিস্টাল অসিলেটর
1. সাধারণত শুধুমাত্র একটি অসিলোস্কোপ (ক্রিস্টাল অসিলেটর চালু করা প্রয়োজন) বা একটি ফ্রিকোয়েন্সি মিটার পরীক্ষার জন্য ব্যবহার করা যেতে পারে, এবং একটি মাল্টিমিটার পরিমাপের জন্য ব্যবহার করা যাবে না, অন্যথায় শুধুমাত্র প্রতিস্থাপন পদ্ধতি ব্যবহার করা যেতে পারে।
2. ক্রিস্টাল অসিলেটরের সাধারণ ত্রুটিগুলি হল: ক.অভ্যন্তরীণ ফুটো, খ.অভ্যন্তরীণ খোলা বর্তনী, গ.পরিবর্তনশীল ফ্রিকোয়েন্সি বিচ্যুতি, ঘ.পেরিফেরাল সংযুক্ত ক্যাপাসিটারের ফুটো।এখানে ফুটো হওয়ার ঘটনাটি এর VI বক্ররেখা দ্বারা পরিমাপ করা উচিত.
3. পুরো বোর্ড পরীক্ষায় দুটি বিচার পদ্ধতি ব্যবহার করা যেতে পারে: ক.পরীক্ষার সময়, ক্রিস্টাল অসিলেটরের কাছাকাছি সম্পর্কিত চিপগুলি ব্যর্থ হয়।খ.ক্রিস্টাল অসিলেটর ছাড়া অন্য কোন ফল্ট পয়েন্ট পাওয়া যায় না।
4. দুটি সাধারণ ধরনের ক্রিস্টাল অসিলেটর রয়েছে: ক.দুটি পিন।খ.চারটি পিন, যার মধ্যে দ্বিতীয় পিনটি চালিত, এবং মনোযোগ ইচ্ছামত শর্ট সার্কিট করা উচিত নয়।পাঁচ.ত্রুটির ঘটনা বন্টন 1. সার্কিট বোর্ডের ত্রুটিপূর্ণ অংশগুলির অসম্পূর্ণ পরিসংখ্যান: 1) চিপের ক্ষতি 30%, 2) বিচ্ছিন্ন উপাদানগুলির ক্ষতি 30%,
3) তারের 30% (PCB প্রলিপ্ত তামার তার) ভেঙে গেছে, 4) প্রোগ্রামের 10% ক্ষতিগ্রস্থ বা হারিয়ে গেছে (উর্ধ্বমুখী প্রবণতা রয়েছে)।
2. উপরোক্ত থেকে দেখা যায় যে সার্কিট বোর্ডের সংযোগ এবং প্রোগ্রামে সমস্যা হলে মেরামত করতে হবে, এবং কোন ভাল বোর্ড নেই, এর সংযোগের সাথে পরিচিত নয়, এবং মূল প্রোগ্রাম খুঁজে পাচ্ছে না, সম্ভাবনা বোর্ড মেরামত মহান নয়.
পোস্টের সময়: মার্চ-০৬-২০২৩