1. Chip med program
1. EPROM-chips är i allmänhet inte lämpliga för skador.Eftersom den här typen av chip behöver ultraviolett ljus för att radera programmet kommer det inte att skada programmet under testet.Det finns dock information: på grund av materialet som används för att göra chippet, eftersom tiden går Långt), även om det inte används, kan det skadas (hänvisar främst till programmet).Så det är nödvändigt att säkerhetskopiera det så mycket som möjligt.
2. EEPROM, SPROM, etc., samt RAM-chips med batterier, är mycket lätta att förstöra programmet.Huruvida sådana marker kommer att förstöra programmet efter att ha använtatt skanna VI-kurvan är ännu inte avgörande.Men kollegor När vi stöter på den här typen av situation är det bättre att vara försiktig.Författaren har gjort många experiment, och den mest troliga orsaken är: läckage av skalet på underhållsverktyget (som testare, elektrisk lödkolv, etc.).
3. För chipet med batteri på kretskortet, ta inte bort det från kortet lätt.
2. Återställ kretsen
1. När det finns en storskalig integrerad krets på kretskortet som ska repareras bör man vara uppmärksam på återställningsproblemet.
2. Innan testet är det bäst att sätta tillbaka den på enheten, slå på och stänga av maskinen upprepade gånger och prova.Och tryck på återställningsknappen flera gånger.
3. Funktions- och parametertest
1.kan endast återspegla avskärningsområdet, förstärkningsområdet och mättnadsområdet när enheten detekteras.Men den kan inte mäta de specifika värdena som driftfrekvens och hastighet.
2. På samma sätt, för digitala TTL-chips, kan endast utgångsändringarna för höga och låga nivåer vara kända, men hastigheten för dess stigande och fallande kanter kan inte detekteras.
4. Kristalloscillator
1. Vanligtvis kan endast ett oscilloskop (kristalloscillatorn måste slås på) eller en frekvensmätare användas för testning, och en multimeter kan inte användas för mätning, annars kan substitutionsmetoden endast användas.
2. Kristalloscillatorns vanliga fel är: a.inre läckage, b.intern öppen krets, c.variabel frekvensavvikelse, d.läckage av perifera anslutna kondensatorer.Läckagefenomenet här bör mätas med VI-kurvan för.
3. Två bedömningsmetoder kan användas i hela styrelsetestet: a.Under testet misslyckas de relaterade chipsen nära kristalloscillatorn.b.Inga andra felpunkter finns förutom kristalloscillatorn.
4. Det finns två vanliga typer av kristalloscillatorer: a.två stift.b.fyra stift, varav det andra stiftet drivs, och uppmärksamheten bör inte kortslutas efter behag.Fem.Fördelning av felfenomen 1. Ofullständig statistik över felaktiga delar av kretskortet: 1 ) chipskador 30 %, 2) diskreta komponenter skada 30 %,
3) 30 % av kablaget (PCB belagd koppartråd) är trasig, 4) 10 % av programmet är skadat eller förlorat (det finns en uppåtgående trend).
2. Det kan ses av ovanstående att när det finns ett problem med anslutningen och programmet för kretskortet som ska repareras, och det inte finns något bra kort, inte känner till dess anslutning och inte kan hitta det ursprungliga programmet, är möjligheten att reparera brädan är inte bra.
Posttid: Mar-06-2023